(1)
Мухаммад, А. И.; Наливайко, О. Ю.; Колос, В. В. .; Гайдук, П. И. Плазмонное поглощение инфракрасного излучения в периодических структурах Si Si3N4 SiO2 Si Al с окошечным поверхностным слоем. Журнал Белорусского государственного университета. Физика 2024, вып. 1, 49-56.