Поглощение рентгеновского излучения при анализе остаточных напряжений в образцах с цилиндрической геометрией
Аннотация
Исследовано влияние геометрии образца на учет поглощения рентгеновского излучения по мере его прохождения через образец. Рассмотрен случай цилиндрической геометрии, для которого выполнено теоретическое описание поглощения в образцах с такой геометрией. Полученные теоретические выражения использовались для учета поглощения рентгеновского излучения в железных проволоках при анализе остаточных напряжений. С помощью рентгеновской дифрактометрии установлены дифракционные профили при различных углах наклона и поворота вектора дифракции относительно нормали к поверхности образца. Экспериментальные данные были фитированы линейной зависимостью, так как в данном исследовании образцы предполагаются изотропными. На основании результатов процедуры фитирования определены значения компонент тензора напряжений. Установлено, что присутствуют отклонения от линейной зависимости. Это может быть связано с наличием анизотропии образца за счет присутствия текстуры или зависящего от направления взаимодействия зерен, из чего следует, что для более строгого описания полученных экспериментальных зависимостей нужно считать образцы анизотропными и дополнить анализ остаточных напряжений соответствующей теорией.
Литература
- Atienza J. M., Martinez-Perez M. L., Ruiz-Hervias J., et al. Residual stresses in cold drawn ferritic rods. Scripta Mater. 2005. Vol. 52, issue 4. P. 305–309. DOI: 10.1016/j.scriptamat.2004.10.010.
- Ghelichi R., Bagherifard S., MacDonald D., et al. Experimental and numerical study of residual stress evolution in cold spray coating. Appl. Surf. Sci. 2014. Vol. 288. P. 26–33. DOI: 10.1016/j.apsusc.2013.09.074.
- Elices M. Influence of residual stresses in the performance of cold-drawn pearlitic wires. J. Mater. Sci. 2004. Vol. 39, issue 12. P. 3889–3899. DOI: 10.1023/B:JMSC.0000031470.31354.b5.
- Welzel U., Ligot J., Lamparter P., et al. Stress analysis of polycrystalline thin films and surface regions by X-ray diffraction. J. Appl. Cryst. 2005. Vol. 38, part 1. P. 1–29. DOI: 10.1107/S0021889804029516.
- Welzel U., Mittemeijer E. J. Diffraction stress analysis of macroscopically elastically anisotropic specimens: on the concepts of diffraction elastic constants and stress factors. J. Appl. Phys. 2003. Vol. 93, issue 11. P. 9001–9011. DOI: 10.1063/1.1569662.
- Francois M., Dionnet B., Sprauel J. M., et al. The influence of cylindrical geometry on X-ray stress ensor analysis. General formulation. J. Appl. Cryst. 1995. Vol. 28, part 6. P. 761–767. DOI: 10.1107/S0021889895006868.
- Dionnet B., Francois M., Sprauel J. M., et al. The influence of cylindrical geometry on X-ray stress tensor analysis. Applications. J. Appl. Cryst. 1999. Vol. 32, part 5. P. 883–891. DOI: 10.1107/S0021889899003829.
Copyright (c) 2017 Журнал Белорусского государственного университета. Физика
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution-NonCommercial» («Атрибуция — Некоммерческое использование») 4.0 Всемирная.
Авторы, публикующиеся в данном журнале, соглашаются со следующим:
- Авторы сохраняют за собой авторские права на работу и предоставляют журналу право первой публикации работы на условиях лицензии Creative Commons Attribution-NonCommercial. 4.0 International (CC BY-NC 4.0).
- Авторы сохраняют право заключать отдельные контрактные договоренности, касающиеся неэксклюзивного распространения версии работы в опубликованном здесь виде (например, размещение ее в институтском хранилище, публикацию в книге) со ссылкой на ее оригинальную публикацию в этом журнале.
- Авторы имеют право размещать их работу в интернете (например, в институтском хранилище или на персональном сайте) до и во время процесса рассмотрения ее данным журналом, так как это может привести к продуктивному обсуждению и большему количеству ссылок на данную работу. (См. The Effect of Open Access).