Уточнение критерия сильной локализации  электронов на поверхности полупроводника

Авторы

  • Темур Ташкабаевич Муратов Ташкентский государственный педагогический университет им. Низами, ул. Бунёдкор, 27, 100185, г. Ташкент, Узбекистан

Ключевые слова:

приповерхностный слой, естественный размерный эффект, правило Иоффе – Регеля, сечение двумерного рассеяния, приближение Томаса – Ферми, функция распределения Ферми – Дирака, критерий  сильной локализации

Аннотация

Анализируется возможность значительной локализации двумерного электронного газа на поверхности сильнолегированного полупроводника. Получена аналитическая формула для среднего сечения низкоэнергетического рассеяния приповерхностных электронов с учетом функции распределения Ферми – Дирака. Отмечается существенная особенность точки EF = 0 в квазидвумерных электронных системах, в отличие от их трехмерных аналогов. На основе правила Иоффе – Регеля и полученной формулы для среднего сечения рассеяния найден более точный, реалистичный критерий сильной локализации, чем тот, который был определен в других цитируемых работах.

Биография автора

  • Темур Ташкабаевич Муратов, Ташкентский государственный педагогический университет им. Низами, ул. Бунёдкор, 27, 100185, г. Ташкент, Узбекистан

    соискатель кафедры методики преподавания физики и астрономии физико-математического факультета

Библиографические ссылки

  1. Bondarenko V. B., Kuzmin M. V., Korablev V. V. [An analysis of as-grown inhomogeneities peculiar to the surface potential of the impurity semiconductor]. Fiz. Tekh. Poluprovodn. [Semiconductors]. 2001. Vol. 35, issue 8. P. 964–968 (in Russ.).
  2. Gantmakher V. F. Elektrony v neuporyadochennykh sredakh [Electrons in disordered mediums]. Moscow : Fizmatlit, 2013 (in Russ.).
  3. Landau L. D., Lifshits E. M. Teoreticheskaya fizika [Theoretical physics] : in 10 vols. Moscow : Nauka, 1989. Vol. 3 : Kvantovaya mekhanika (nerelyativistskaya teoriya) [Quantum mechanics (nonrelativistic theory)] (in Russ.).
  4. Bondarenko V. B., Filimonov A. V. [A criterion for strong localization on a semiconductor surface in the Thomas – Fermi approximation]. Fiz. Tekh. Poluprovodn. [Semiconductors]. 2017. Vol. 51, issue 10. P. 1372–1375 (in Russ.). DOI: 10.21883/FTP.2017. 10.45015.8507.
  5. Askerov B. M. Kineticheskie effekty v poluprovodnikakh [Kinetic effects in semiconductors]. Leningrad : Nauka, 1970 (in Russ.).
  6. Benemanskaya G. V., Jmeric V. N., Lapushkin M. N., et al. Accumulation nano-layer – 2D-electron channel of ultrathin interfaces Cs /n-InGaN. Fiz. Tverd. Tela. 2009. Vol. 51, issue 2. P. 372–376. PACS: 73.20-r, 73.21.Fg, 79.60.Dp (in Russ.).
  7. Nikiforov A. F., Uvarov V. B. Spetsialʼnye funktsii matematicheskoi fiziki [Special functions of mathematical physics]. Moscow : Nauka, 1978 (in Russ.).

Загрузки

Опубликован

2019-01-20

Выпуск

Раздел

Физика электромагнитных явлений

Как цитировать

(1)
Муратов, Т. Т. Уточнение критерия сильной локализации  электронов на поверхности полупроводника. Журнал Белорусского государственного университета. Физика 2019, вып. 2, 117-124.